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紅外氣體分析儀介紹
日期：2025-06-04 15:30
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摘要：
紅外氣體分析儀介紹
紅外氣體分析儀，是利用紅外線進**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同，剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣，紅外線氣體分析儀就可間接測量出待分析組分的濃度。
1.比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)
式中：I--被介質吸收的輻射強度;
I0--紅外線通過介質前的輻射強度;
K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
紅外氣體分析儀，是利用紅外線進**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同，剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣，紅外線氣體分析儀就可間接測量出待分析組分的濃度。
1.比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)
式中：I--被介質吸收的輻射強度;
I0--紅外線通過介質前的輻射強度;
K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
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